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芯片高低温交变老化柜 SSTS—64—NVME
SSTS—64—NVME
工厂现货，可非标定制（7~15天）
TST · 特斯特仪器
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芯片高低温交变老化柜整机特性：
支持PCIE的测试片数定制化，例如32片、36片、64片、96片、156片、216片等等;
支持研发微小型定制化，例如4片、8片等等;
支持(-70度~+180度)的测试;
支持异常断电测试和老化测试;
支持自动化温控测试;
支持全部采用软体进行智能化控制测试;
支持测试测试软体的定制化;
支持箱内风速与温度均衡;
支持快速升降温控制;
支持PCIE老化的定制化研发;
支持网络化控制，可以异地控制测试并看测试结果;
支持APP远程控制测试;
芯片高低温交变老化柜整机主要组成部分：
整机测试系统主要包括高低温箱、PC主板、PM板、片板、FPGA板卡、产品工装、后仓
TEST PC和测试软体等等.硬体部分
硬件部分主要由如下几部分组成：
定制化高低温试验箱;
压缩机机组;
TEST PC测试主板;
PM及内置PCIE测试板;
整机电路及电源控制部件;
测试用专用PCIE治具
千兆网路交换机
测试专用绝缘板
耐高低温专用硅胶密封件
Console主机
